针对绝缘栅双极型晶体管(IGBT)的主要故障机理,特别是连接线的故障过程,采用了高速红外热像仪对结温和结温进行实时检测。
合引线失效过程的温度分布。测传热特性,发现在高结温和高温梯度下,IGBT的主要失效模式是键合线的翘曲和熔化。
出了一种集电极-发射极电压降增大,热阻基本不变的方法,提出了一种提高器件可靠性,延长使用寿命的方法。
据加速寿命测试的原理,通过执行大功率电源循环测试并调整测试数据,可以获得电流水平和最高的工作。
用测试数据中的误差对改进的结温寿命预测模型进行分析和比较。
经发现,在不同的测试条件下,与原始模型相比,模型的精度有所提高,适用范围从80 K扩展到100K。
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